• <button id="fvbfj"><object id="fvbfj"></object></button><th id="fvbfj"><track id="fvbfj"></track></th>
    1. <th id="fvbfj"></th>
    2. <progress id="fvbfj"></progress>

      <rp id="fvbfj"></rp>
      首页 >>> 产品目录 >>> 电子显微镜 >>> 台式电子显微镜
      台式电子显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
      产品概览 技术规格 资料下载 行业应用

      台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级


      我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念,开发出TM4000系列。

      在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。

      为您提供全新的观察和分析应用。




      观察图像3分钟。可迅速获得所需数据,并制作报告。


      观察与分析的灵活性
      自动获取各类数据。快速切换!

      可快速获得元素分布图*2


      *1TM4000PlusⅡ的功能。

      *2选配

      使用Camera Navi*的话,就是如此简单
      Camera Navi图像让您轻松找到视野,分布图(MAP)功能全程支持您的观察


      *选配:Camera Navi系统


      操作简单且快捷
      观察图像只需 3 分钟。
      可快速观察图像,并导出测试报告。
      Report Creator可让您轻松制作报告
      只需选择图像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告


      即便是绝缘物样品,也无需预处理,就可直接进行观察。
      “静电减轻模式”可抑制静电现象
      对于容易产生静电的样品,可使用“静电减轻模式”,在抑制静电的状态下进行观察。
      只需用鼠标在软件上点击即可切换到“静电减轻模式”。

      可在低真空的条件下进行多种观察
      对于容易产生静电的粉末或含水等样品,可结合其目的进行观察。


      可在低真空的条件下进行二次电子像(表面形状)观察
      无需预处理,也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面
      不仅是观察传统的导电性样品,还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。
      高感度低真空二次电子检测器
      采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光,可以观察带有二次电子信息的图像。此外,通过控制该检测器,来检测电子照射所产生的光,可以获得CL信息(UVD-CL:带有CL信息的图像)。

      高感度低真空二次电子检测器的检测原理


      可支持加速电压20 kV
      TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。
      凭借EDS分析(选配),可进行更高计数率解析。
      通过加速电压20 kV,实现EDS元素分布图的高S/N化


      Multi Zigzag(选配)
      可实现在广域范围内进行SEM观察。
      搭配自动马达台,可实现低倍率,高精度,大范围的观察分析。

      EM 样品台(选配
      可轻松观察 STEM 图像
      与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用,可轻松观察小倍率 STEM 图像。
      可轻松观察薄膜样品和生物样品。

      * UVD为 TM4000Plus II上的配件。

      样品:研磨剂
      加速电压:20 kV
      观察信号:(a) STEM 图像, (b) 背散射电子像
      放大倍率:10000 倍